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非標(biāo)項(xiàng)目定制化測(cè)試服務(wù)

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詳細(xì)介紹

SEM/EDS

掃描電子顯微鏡（SEM）是依據(jù)電子與物質(zhì)相互作用制造的，當(dāng)一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征 x 射線(xiàn)和連續(xù)譜 X 射線(xiàn)、背散射電子等電子信息，掃描電子顯微鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機(jī)理，采用不同的信息檢測(cè)器，使選擇檢測(cè)得以實(shí)現(xiàn)。如對(duì)二次電子、背散射電子的采集，可得到有關(guān)物質(zhì)微觀形貌的信息；對(duì) x 射線(xiàn)的采集，可得到物質(zhì)化學(xué)成分的信息。

通過(guò) SEM 可對(duì)樣品進(jìn)行微觀形貌觀察、微觀尺寸測(cè)量、斷口分析、界面觀察、錫須觀察，結(jié)合 EDS 可對(duì)樣品進(jìn)行表面物質(zhì)元素分析。

熱學(xué)·分析

順馳檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室可以開(kāi)展針對(duì)金屬、非金屬、高分子等材料進(jìn)行熱學(xué)性能的測(cè)試與分析，包括熔點(diǎn)、導(dǎo)熱性能、熱穩(wěn)定性等。熱分析實(shí)驗(yàn)室的主要儀器有 TMA、DSC、TGA、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀等。開(kāi)展的測(cè)試與分析項(xiàng)目有：玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、熔點(diǎn)、結(jié)晶溫度、結(jié)晶度、熔融熱焓、結(jié)晶熱焓、線(xiàn)膨脹系數(shù)、PCB 板爆板時(shí)間 T260 與 T288、導(dǎo)熱系數(shù)、熱阻等。

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